主要参数：

    ·半导体器件高精度测量

    -上限达2000V或电流到10A的源（370A）

    -上限到3000V（371A）

    -上限到220W（370A）

    -上限到400A（371A）

    -1nA的测量分辨率

    -上限到3000W（371A）

    ·上限到2mV的测量分辨率（370A）

    ·波形对比

    ·包络显示

    ·波形平均

    ·点光标（370A）

    ·Kelvin传感测量

    ·全程控

    ·MS-DOS兼容的软盘，方便设置参孝存储和调用

    应用：

    手动或自动进行半导体高分辨率DC参数测量

    来料检查

    生产测试

    过程监视及质量控制

    数据报告的生成

    元件配对

    失效分析

    工程测试

    交互式程控